JEOL JAMP-9500f – это Оже-спектрометр с высокими техническими характеристиками, с полусферическим анализатором. Исследования на Оже — электронный спектрометр JEOL JAMP-9500f направлены на решение фундаментальных и прикладных задач в области исследования и контроля химического и фазового состава, формы и структуры наноматериалов и изделий из них, а так же макрообъектов имеющих наноразмерные структурные составляющие.
Для проведения данных исследований применяются методы анализа изображений поверхности образца с высоким пространственным разрешением, используя режим вторичных электронов, картирование распределения элементного и химического состава в Оже-электронах и анализ профиль концентрации вдоль выбранной линии (линейный профиль) с нанометрическим и субнанометрическим разрешением. Возможно проведение анализа профиля концентрации по глубине при использовании ионного (Ar+) травления поверхности образца.
Pис. 1: Электронно-зондовый микроанализатор JEOL JXA-iSP100 EPMA
Высокоточный эвцентрический моторизованный столик в сочетании с ионной пушкой, позволяет выполнять анализ непроводящих образцов и делает универсальную подготовку любых типов образцов, например, металлов и диэлектриков, для получения информации о химическом составе.
Pис. 2: НВ размером 1мкм в стали. Картирование
